星云功率半导体老化测试系统
星云功率半导体老化测试系统是一款针对半导体产品方向的做高温反偏，栅极反偏老化测试设备，用以评估功率半导体的可靠性。
应用场景
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新能源汽车 -
储能 -
工业与通讯 -
航天航空 -
医疗设备
产品亮点
测试精度高
采样速率高
波形实时显示
数据直观
安全控制策略
保护使用者安全
实时故障侦测
ms级数据自动储存
基础参数
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产品型号NEPS-HTB2000015-V001
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高压源范围：0~2000V
精度：0.1%+100mV -
HTGB:IGES(IGDS)范围：0.1nA~15mA
精度 0.5%±2LSB
分辨率：10pA -
HTRB/H3TRB:ICES(IDSS)范围：1μA~10mA
精度：0.5%±2LSB
分辨率：1μA -
温箱温度范围(环境温度+20)℃～+300℃
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温箱波动度≤100℃时：0.4℃
≤200℃时：0.4℃
≤300℃时：0.8℃ -
温箱温度偏差≤100℃时：±1.5℃
≤200℃时：±2.0℃
≤300℃时：±3.0℃ -
电源分区最大支持8个电源分区
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交流输入电压:220±10%
频率:50/60Hz±3Hz
